該設備(bei)(bei)主要是針對(dui)(dui)于(yu)電工、電子(zi)產(chan)品(pin)(pin)(pin)，以(yi)及其(qi)原器件，及其(qi)它(ta)材(cai)料在高溫(wen)、低(di)溫(wen)的(de)環境下(xia)(xia)貯存、運輸、使(shi)用時的(de)適應性(xing)試(shi)驗。該試(shi)驗設備(bei)(bei)主要用于(yu)對(dui)(dui)產(chan)品(pin)(pin)(pin)按(an)照國家(jia)標準要求或用戶自定(ding)要求，在低(di)溫(wen)、高溫(wen)、條(tiao)件下(xia)(xia)，對(dui)(dui)產(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)物理以(yi)及其(qi)他相關特性(xing)進行環境模擬測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)后(hou)，通過檢測(ce)，來(lai)判斷產(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)性(xing)能(neng)，是否仍(reng)然能(neng)夠符合預(yu)定(ding)要求，以(yi)便供產(chan)品(pin)(pin)(pin)設計、改(gai)進、鑒(jian)定(ding)及出廠檢驗用。